3月10日，精測(cè)電子集團(tuán)股份有限公司與長(zhǎng)春長(zhǎng)光辰芯微電子股份有限公司聯(lián)合宣布推出全球首款基于2.71億像素CMOS圖像傳感器的全新高精度顯示器缺陷檢測(cè)解決方案，為高端工業(yè)檢測(cè)、顯示器質(zhì)量缺陷檢測(cè)等細(xì)分領(lǐng)域帶來全新的技術(shù)突破。
2.71億像素超高分辨率的CMOS圖像傳感器GMAX15271BSI
本次發(fā)布的全新解決方案采用了長(zhǎng)光辰芯2.71億像素超高分辨率的CMOS圖像傳感器——GMAX15271BSI，該芯片具備先進(jìn)的1.5μm背照式像素技術(shù)，同時(shí)得益于先進(jìn)的電路設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)0.75e-的超低讀出噪聲和73.9dB的高動(dòng)態(tài)范圍，配合高速sub-LVDS數(shù)據(jù)接口，可確保設(shè)備在高傳輸速率下數(shù)據(jù)的完整性與穩(wěn)定性。
結(jié)合精測(cè)電子獨(dú)創(chuàng)的顯示屏單像素亮色度精確提取算法技術(shù)，傳感器的2.71億像素為顯示屏的亮色度檢測(cè)和補(bǔ)償提供更高的成像Mapping（分辨率高達(dá)3800*3000的 Micro OLED顯示器，依然可以高達(dá)5*4.6的Mapping），弱化成像時(shí)的摩爾紋，可極大降低對(duì)高分辨率大尺寸顯示器的微小缺陷檢測(cè)時(shí)的誤判，賦予了設(shè)備精確檢測(cè)1/3 Dot缺陷的能力；極低的讀出噪聲和高動(dòng)態(tài)范圍結(jié)合高分辨率和獨(dú)創(chuàng)算法，為顯示器中低灰階的微弱缺陷檢測(cè)與補(bǔ)償，提供了新的可能。
憑借GMAX15271BSI的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)以及精測(cè)電子在機(jī)器視覺領(lǐng)域的技術(shù)積淀，也將持續(xù)降低對(duì)PixelShift技術(shù)依賴，實(shí)現(xiàn)顯示器檢測(cè)方案全流程、高精度、高時(shí)效性的技術(shù)突破，從而為客戶提速增效，促進(jìn)生產(chǎn)流程的優(yōu)化升級(jí)。
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