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　　當前，顯示器件的廣色域被眾多廠商越來越重視，然而色域變得更寬廣，對高精度檢測提出了更高的要求。在本屆中國（國際）平板顯示產業大會趨勢論壇上，日本TOPCON公司銷售部經理西川和人特別介紹了該公司研發的全球首款OLED 2D光譜儀以及相關應用優勢。

　　西川和人表示，隨著顯示器件色域越來越廣，單點式光譜儀很難進行相關的檢測，檢測精度也不好。他介紹，在進行OLED測試時，TOPCON公司發現分光光譜波長會隨時間而改變，而且影響了顏色再現性，使得在一般檢測設備上很難檢測。針對以上問題，TOPCON公司克服了很多難以突破的瓶頸，開發出了二維分光輻射亮度計，于2017年1月正式發布且同時開始供貨全球首臺二維分光輻射亮度計。

　　根據使用二維分光輻射亮度計所測量的Galaxy  S3、S5、iphone7的畫面，西川和人介紹：“二維分光輻射亮度計可以顯示全部的區域的任意位置的分光光譜，這也是其他廠家并無法制造這樣高精度設備的原因。在380-780mm區間檢測的光譜變化，可以發現波長上有產生分光，也是可以被二維分光輻射亮度計檢測到。通過對中心點分光光譜比較，可以檢測出設計階段分光光譜與實際顯示屏分光光譜的一致度，檢測出設計時與生產時問題點在哪里。”

　　據介紹，二維分光輻射亮度計SR-5000采用TOPCON獨家的核心技術，開發出可測量的380-780可見光范圍小型透光濾片。同時，TOPCON研發出了SR5000H，該機型兼有著分光與彩色濾片復合功能，根據實際用途，使用者可以自由選擇。因為OLED是自發光，像素檢測更加困難，而新機型SR-5000M/5000HM仍然可以檢測出像素Mura。SR-5000M/5000HM是特別5000M/5000HM是特別為檢測像素Mura所開發出來的設備，搭配20倍、50倍、100倍顯微鏡鏡頭，可以檢測到每一個像素的光學特性。目前二維分光輻射亮度計系列產品已經供貨給蘋果、三星、夏普、豐田等全球知名企業。